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套刻精度量测设备 OVLScan系列
图形晶圆缺陷检测设备 AIRScan系列
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多功能三维形貌量测(2D/3D)设备MACScan系列
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AIRScan系列
图形晶圆缺陷检测设备
Optical Critical Dimension Metrology instrument
光学线宽测量仪
产品简介
AIRScan系列产品采用明暗场光学成像系统、高速图像采集系统、智能化操作系统、自研高动态性能光源,为客户提供高灵敏度、高产能及高检出率的图形晶圆缺陷检测方案。
应用场景
主要应用在ADI、AEI等前道工艺过程检及中后道出货检,支持划片后Frame环等工艺段检测。
晶圆尺寸:4"/6"/8"兼容, 8"/12"兼容
产品特点
·
高灵敏度:大NA及低相差光学成像系统、高动态响应,激光自动实时聚焦;
· 高适应性:灵活结构设计适应多种晶圆尺寸、正反面、扩膜环等应用场景,多种光学模式适应不同工艺场景;
· 高产能:高速图像采集及传输、分布式并行处理架构;
· 高智能化:配备ADC模块,快速分类缺陷,定位品质问题;
· 多维数据结构:智能SPC数据分析软件,生产报表导出,多维数据显示,良率分析;
· 符合SEMI300标准的EAP自动化通信;
· 可搭配100um级精度宏观正检、背检、边检模组。
魅
杰
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(无锡)有限公司
联系邮箱:
pr.sc
@mzsemi.com
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18033050069
(工作日9:30-18:30)
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